[发明专利]一种用于RCS测量时异地定标用的低散射金属支架系统有效

专利信息
申请号: 201610015290.6 申请日: 2016-01-11
公开(公告)号: CN105676184B 公开(公告)日: 2017-07-07
发明(设计)人: 王焕青;莫崇江;王玉伟;孙新;巢增明 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01S7/02 分类号: G01S7/02;G01S7/40
代理公司: 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙)11466 代理人: 黄启行,张璐
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 公开了一种用于RCS测量时异地定标用的低散射金属支架系统,包括定标体、定标支架和移动单元。本发明通过以低散射金属支架作为定标支架,能够在测试位置不变时而不影响测试目标回波,因而可以时时监控背景变化情况,能够防止外界环境对定标支架稳定性的影响,提高定标支架的环境适应性和测量结果的准确性、精确性;通过在定标支架上设置定标体,能够实现异地定标,避免由于不采用异地定标时需要交替更换待测目标和测试标准体而导致的安装效率低、测试准确性差的现象。
搜索关键词: 一种 用于 rcs 测量 异地 定标 散射 金属支架 系统
【主权项】:
一种用于RCS测量时异地定标用的低散射金属支架系统,其特征在于包括:定标体、定标支架和移动单元;其中,所述定标体可拆卸地固定在所述定标支架的上端;所述移动单元固定地设置在所述定标支架的下端,可在地面上移动和固定;所述定标支架为在垂直方向上具有预定倾角的低散射金属支架,所述定标支架位于测试雷达和待测目标之间、并且朝向测试雷达的一侧倾斜,所述定标支架的底部横截面积大于顶部截面积、并且所述定标支架的横截面满足如下关系:y(x)=±1.21A×(1+eB-1xπ)]]>式中,A为横截面的短半轴,B为横截面的长半轴,x为横截面上任一点的横坐标,y为横截面上任一点的纵坐标;其中,所述预定倾角是指所述定标支架的中心轴与底面之间的夹角;针对所述定标支架的任意一个横截面,横截面的短半轴和长半轴满足如下关系:A=2e+1×e-hB=e2-3e+1×e-h]]>式中,h为定标支架的横截面与定标支架的顶面之间的距离。
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