[发明专利]触控模组检测与优化方法有效

专利信息
申请号: 201610016273.4 申请日: 2016-01-12
公开(公告)号: CN105718107B 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 李培煜 申请(专利权)人: 北京集创北方科技股份有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 范芳茗;高青
地址: 100088 北京市海淀区北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种触控模组的检测与优化方法,适用于一个包含多个触控单元的触控模组,每一个触控单元侦测一个电容的电荷变化而获得一个原始数值。该触控模组的检测与优化方法藉由该触控模组对于每一个触控单元:获得多个显示单元所分别显示的多个灰阶的数值;计算该显示单元所显示的该灰阶的数值分别在多个区间的次数;根据该触控单元的该原始数值、在该区间的该次数、及多个补偿系数,计算而获得该触控单元的一个校正数值。该校正数值能有效地补偿该原始数值由于该显示单元所包括的多个液晶电容对该对应的显示单元所侦测的电容的影响所产生的误差。
搜索关键词: 模组 检测 优化 方法
【主权项】:
1.一种触控模组的检测与优化方法,该触控模组的检测与优化方法藉由一个触控模组来实施,所述触控模组包括多个触控单元,每一个触控单元侦测一个电容的电荷变化而获得一个原始数值,所述检测与优化方法包含对于每一个触控单元执行下列步骤:(a)获得该触控单元对应的多个显示单元所分别显示的多个灰阶的数值;(b)计算所述多个灰阶的数值分别在多个区间的次数;及(c)至少根据在每个区间的该次数、及多个补偿系数,计算而获得该触控单元的一个校正数值,其中,定义该原始数值为D0、该校正数值为D、该补偿系数分别为C1、C2、C3、...Ck,该区间分别为一个第一区间、一个第二区间、一个第三区间、...一个第k区间,分别在该第一区间、该第二区间、该第三区间、...该第k区间的该次数为N1、N2、N3、...Nk,k为正整数且为该区间的总数,则D=D0+C1*N1+C2*N2+C3*N3+...+Ck*Nk,C1、C2、C3、...Ck为实数,N1、N2、N3、...Nk为正整数,在步骤(b)中,该区间的范围彼此不重迭,且该区间的集合为0与一个灰阶最大值之间的所有整数。
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