[发明专利]蚀刻方法有效
申请号: | 201610018014.5 | 申请日: | 2016-01-12 |
公开(公告)号: | CN105810579B | 公开(公告)日: | 2019-12-06 |
发明(设计)人: | 渡边光;辻晃弘 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065 |
代理公司: | 11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 刘新宇;张会华<国际申请>=<国际公布> |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种在防止开口被闭塞的同时相对于由氮化硅构成的第2区域而对由氧化硅构成的第1区域进行蚀刻的蚀刻方法。本发明的蚀刻方法包括以下工序:第1工序,在该第1工序中,在容纳有被处理体的处理容器内生成含有碳氟化合物气体的处理气体的等离子体,从而在被处理体上形成含有碳氟化合物的堆积物;第2工序,在该第2工序中,在容纳有被处理体的处理容器内生成含有含氧气体和非活性气体的处理气体的等离子体;以及第3工序,在该第3工序中,利用堆积物所含有的碳氟化合物的自由基来对第1区域进行蚀刻。在该蚀刻方法中,重复执行包含第1工序、第2工序、以及第3工序的序列。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 方法 | ||
【主权项】:
1.一种蚀刻方法,其通过针对被处理体进行的等离子体处理来相对于由氮化硅构成的第2区域而选择性地对由氧化硅构成的第1区域进行蚀刻,其中,/n所述被处理体具有划分出凹部的所述第2区域、以将该凹部填埋且覆盖所述第2区域的方式设置的所述第1区域、以及设置在所述第1区域上的掩模,/n该蚀刻方法包括以下工序:/n第1工序,在该第1工序中,在容纳有所述被处理体的处理容器内生成含有碳氟化合物气体的处理气体的等离子体,从而在所述被处理体上形成含有碳氟化合物的堆积物;/n第2工序,在该第2工序中,在容纳有所述被处理体的处理容器内生成含有含氧气体和非活性气体的处理气体的等离子体,从而使得在所述被处理体上形成的所述堆积物的量减少;以及/n第3工序,在该第3工序中,利用所述堆积物所含有的碳氟化合物的自由基来对所述第1区域进行蚀刻,/n重复执行包含所述第1工序、所述第2工序、以及所述第3工序的序列,/n在所述序列中,在所述第1工序与所述第3工序之间执行所述第2工序,/n所述序列还包括另一工序,在该另一工序中,在容纳有所述被处理体的处理容器内生成含有含氧气体和非活性气体的处理气体的等离子体,/n其中,在所述第3工序之后执行所述另一工序。/n
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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