[发明专利]一种芯片验证中确定回归测试版本异常源头的方法

摘要

本发明公开了一种芯片验证中确定回归测试版本异常源头的方法，其实现过程为：对回归测试中出现错误的原因进行分析，自动检测错误原因，通过确定出错源头的方式，使得错误原因能被明确显示，帮助设计人员及时修正错误。该芯片验证中确定回归测试版本异常源头的方法与现有技术相比，极大提高逻辑验证的效率，缩短芯片开发周期，实用性高，易于推广。

主权项

1.一种芯片验证中确定回归测试版本异常源头的方法，其特征在于，其具体实现过程为：对回归测试中出现错误的原因进行分析，自动检测错误原因，通过确定出错源头的方式，使得错误原因能被明确显示，帮助设计人员及时修正错误；自动检测回归测试中的错误原因采用以下方式进行：对待检测版本的产品进行冒烟测试，测试通过后将其提交到版本库；对冒烟测试未通过的产品进行修改，修改后的产品采用并行版本测试方法，即与可通过测试的版本合并的方式进行测试，通过测试后则将其提交到版本库；将所有修改后的版本通过运行递归测试，即顺序测试的方式判断哪个版本通过测试，并将最后一个通过测试的版本提交到版本库；上述递归测试的具体实现过程为：步骤一、将第一个修改后的产品与能通过测试的主版本产品进行合并，测试是否能通过；步骤二、当测试通过后，再将合并后版本的产品与下一个版本的产品进行合并，测试是否能通过；步骤三、重复步骤二，直至测试完全通过或测试无法通过；步骤四、当测试完全通过时，提交最后的合并版本到版本库；当测试无法通过时，提交最后测试通过时的合并版本到版本库。