[发明专利]一种基于砷化铟衬底的II类超晶格结构及制备方法在审

专利信息
申请号: 201610020793.2 申请日: 2016-01-13
公开(公告)号: CN105514189A 公开(公告)日: 2016-04-20
发明(设计)人: 王芳芳;陈建新;徐志成;周易 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: H01L31/0304 分类号: H01L31/0304;H01L31/0236;H01L31/18
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于砷化铟衬底的II类超晶格结构及制备方法。其结构自下而上依次为GaAsxSb1-x层和InAs层。与传统的II类超晶格结构相比,其特点在于:(1)原有的GaSb衬底被InAs衬底替代,使得超晶格生长温度大幅度提高,生长温度的提高有利于表面原子扩散长度的增加,因此更有利于材料的二维生长和材料缺陷密度的降低;(2)原有的四层结构生长模式(InAs/InSb/GaSb/InSb)被两层结构生长模式(InAs/GaAsSb)替代,结构更加简单,更有利于实现高质量超晶格的生长;(3)InAs层厚度的变化对InAs基II类超晶格的失配影响较小,极大地降低了长波、尤其是甚长波材料的生长难度,更易于提高材料的性能和质量。
搜索关键词: 一种 基于 砷化铟 衬底 ii 晶格 结构 制备 方法
【主权项】:
一种基于砷化铟衬底的II类超晶格结构,其结构自下而上依次为GaAsxSb1‑x层(1)和InAs层(2),其特征在于:所述的GaAsxSb1‑x层(1)的厚度为2.1nm‑3.6nm,组分x为0.0‑0.5;所述的InAs层(2)的厚度为2.1nm‑10.5nm。
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