[发明专利]一种温度绝对值测量方法及测量装置有效

专利信息
申请号: 201610023488.9 申请日: 2016-01-12
公开(公告)号: CN105486425B 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 朱军;俞本立;汪辉;吕亮;徐峰;胡姗姗 申请(专利权)人: 安徽大学
主分类号: G01K11/32 分类号: G01K11/32
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)32260 代理人: 张欢勇
地址: 230000 安徽省合肥*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及光纤温度传感技术领域,具体为一种温度绝对值测量方法及测量装置。现有的光纤干涉型温度传感器,无法测量温度的绝对值,测温范围窄。针对上述问题,本发明公开一种温度绝对值测量方法,利用高双折射光纤的双折射和长度与外界温度的关系,建立关系式其中T表示外界温度,a、b表示待定系数,表示某参考波长λ0经过高双折射光纤快轴和慢轴时所产生的相位差且B表示高双折射光纤的双折射,L表示高双折射光纤的长度,λN表示任一极值波长,N表示任一极值波长λN所对应的干涉级数,制作装置时或者首次测量前,获取不同温度下的干涉光谱,对a、b进行标定,实际测量时,获取任意波长范围内的干涉光谱,利用公式即可计算出待测温度的绝对值。
搜索关键词: 一种 量程 温度 绝对值 测量方法 测量 装置
【主权项】:
一种温度绝对值测量方法,其步骤如下:A.选择一段高双折射光纤,建立该高双折射光纤的双折射和长度与外界温度的关系式其中T表示外界温度,a、b表示待定系数,表示某参考波长λ0经过高双折射光纤快轴和慢轴时所产生的相位差且B表示高双折射光纤的双折射,L表示高双折射光纤的长度;B.搭建以该高双折射光纤的快轴和慢轴构成干涉光路相位差的干涉仪,并以该高双折射光纤作为温度传感探头,将温度传感探头植入一个已标定的温度变化盒内,获取干涉仪在不同温度下输出的干涉光谱,在每个温度T相对应的干涉光谱中采集相邻两个极大值或者两个极小值的波长,计算出该两个极值波长所对应的干涉级数,根据计算出的干涉级数,即可获得所有极值波长所对应的干涉级数,所述所有极值波长包括所有极大值波长和所有极小值波长,从而获得多组相对应的T、λN、N值,其中λN表示在温度T下的任一极值波长,N表示该极值波长所对应的干涉级数;C.基于干涉光谱中某参考波长λ0所对应的相位差将获得的多组T、λN、N值代入关系式并通过计算机软件对数据进行拟合,从而标定关系式中的系数a和b;D.测量待测温度,将温度传感探头植入待测温度环境中,获取干涉仪输出的干涉光谱,采集相邻两个极值的波长,计算出任一极值波长λN所对应的干涉级数N,将获得的λN、N值代入已标定的关系式计算出T值,T值即为待测温度值。
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