[发明专利]用于纠错修改冗余器件组及利用其修复电路缺陷的方法在审

专利信息
申请号: 201610024687.1 申请日: 2016-01-15
公开(公告)号: CN105678003A 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 方镜清 申请(专利权)人: 中山芯达电子科技有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 中山市铭洋专利商标事务所(普通合伙) 44286 代理人: 邹常友
地址: 528400 广东省中山市火*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提出一种用于纠错修改冗余器件组,其特征在于:包括若干个由一个NMOS管和一个PMOS管组成的基本单元,所述PMOS管的源极连接芯片VSS,其漏极悬空或连接NMOS管的源极,所述NMOS管的漏极连接芯片的GND,所述PMOS管的栅极与NMOS管的栅极相连接;该基本单元数量在2个以上。本发明还提出一种利用该冗余器件组修复电路缺陷的方法,目的在于解决在电路设计当中修复不当导致整块电路板报废的问题。
搜索关键词: 用于 纠错 修改 冗余 器件 利用 修复 电路 缺陷 方法
【主权项】:
种用于纠错修改的冗余器件组,其特征在于:包括若干个由一个NMOS管和一个PMOS管组成的基本单元,所述PMOS管的源极连接芯片VSS,其漏极悬空或连接NMOS管的源极,所述NMOS管的漏极连接芯片的GND,所述PMOS管的栅极与NMOS管的栅极相连接;该基本单元数量在2个以上。
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