[发明专利]一种针对结构光场衍射相位的实时检测方法在审
| 申请号： | 201610027761.5 | 申请日： | 2016-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN105675150A | 公开（公告）日： | 2016-06-15 |
| 发明（设计）人： | 张青川;张云天;马宣;伍小平 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02;G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;郑哲 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种针对结构光场衍射相位的实时检测方法，包括：利用集成有像素偏振片阵列的相机采集通过预设光路输出的参考光光束与空间光调制器调整生成的结构光光束干涉产生的条纹图；其中，所述像素偏振片阵列中每个偏振片单元的尺寸与相机中感光元件的像素尺寸一致且一一对准；将结构光与参考光干涉产生的条纹图根据偏振片单元的偏振方向提取出四幅偏振方向不同的条纹图来计算结构光场的衍射相位。本发明公开的方法，实现了结构光场的光强和相位信息实时测量，使得用户能够深入了解结构光场的物理特性，对于结构光场在光镊，激光微加工，以及光学信号传播领域有很大的推动作用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 结构 衍射 相位 实时 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种针对结构光场衍射相位的实时检测方法，其特征在于，包括：利用集成有像素偏振片阵列的相机采集通过预设光路输出的结构光与参考光干涉产生的条纹图；其中，所述像素偏振片阵列中每个偏振片单元的尺寸与相机中感光元件的像素尺寸一致且一一对准；将结构光与参考光干涉产生的条纹图根据偏振片单元的偏振方向提取出四幅偏振方向不同的条纹图来计算结构光场的衍射相位。
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