[发明专利]测量纳秒脉冲火花放电等离子体发射光谱的系统在审

专利信息
申请号: 201610029019.8 申请日: 2016-01-15
公开(公告)号: CN105606572A 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 李威;王志新 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种测量纳秒脉冲火花放电等离子体发射光谱的系统,包括:重复频率纳秒脉冲电压发生器、激励器、低气压实验舱以及电学和光学测量系统;所述重复频率纳秒脉冲电压发生器用于产生可调的脉冲控制信号;所述流激励器用于火花放电并加热放电腔体内的气体,形成纳秒脉冲离子体合成射流;所述低气压实验舱用于研究低气压环境对纳秒脉冲火花放电等离子体的发射光谱影响;所述电学和光学测量系统用于测量重复频率纳秒脉冲电压发生器发射的脉冲的电流和电压波形,并拍摄纳秒脉冲离子体合成射流的光谱。本发明能够施加纳秒级脉冲电压,并利用低气压实验舱获得不同的气压条件下的光谱;且测量出的光谱图图重叠程度小,易于分析。
搜索关键词: 测量 脉冲 火花放电 等离子体 发射光谱 系统
【主权项】:
一种测量纳秒脉冲火花放电等离子体发射光谱的系统,其特征在于,包括:重复频率纳秒脉冲电压发生器、激励器、低气压实验舱以及电学和光学测量系统;‑所述重复频率纳秒脉冲电压发生器用于产生可调的脉冲控制信号;‑所述流激励器用于火花放电并加热放电腔体内的气体,形成纳秒脉冲离子体合成射流;‑所述低气压实验舱用于研究低气压环境对纳秒脉冲火花放电等离子体的发射光谱影响;‑所述电学和光学测量系统用于测量重复频率纳秒脉冲电压发生器发射的脉冲的电流和电压波形,并拍摄纳秒脉冲离子体合成射流的光谱。
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