[发明专利]一种硅橡胶复合绝缘材料老化状态检测方法有效
申请号: | 201610029402.3 | 申请日: | 2016-01-15 |
公开(公告)号: | CN105572102B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 王希林;王晗;叶蔚安;贾志东 | 申请(专利权)人: | 清华大学深圳研究生院 |
主分类号: | G01N21/71 | 分类号: | G01N21/71 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人: | 王震宇 |
地址: | 518055 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种复合绝缘材料老化状态检测方法,包括以下步骤S1、用脉冲激光束多次轰击待检测的复合绝缘材料表面上的选取点,产生等离子体,并测量每次轰击在复合绝缘材料上形成的轰击深度;S2、采集每次轰击时等离子体发射的光谱信息,由采集到的光谱信息提取复合绝缘材料的特定组成元素每次轰击时的光谱特性指标,其至少包括特征谱线的谱线强度特征;S3、确定特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系;S4、根据特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系,确定复合绝缘材料的老化状态信息,老化状态信息至少包括复合绝缘材料的老化深度信息。该方法可实现对复合材料老化状态快速、准确的检测,且避免以往所需的破坏性试验。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅橡胶 复合 绝缘材料 老化 状态 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种硅橡胶复合绝缘材料老化状态检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、用脉冲激光束多次轰击待检测的硅橡胶复合绝缘材料表面上的选取点,产生等离子体,并测量每次轰击在硅橡胶复合绝缘材料上形成的轰击深度;S2、采集每次轰击时等离子体发射的光谱信息,由采集到的光谱信息提取硅橡胶复合绝缘材料的特定组成元素每次轰击时的光谱特性指标,所述光谱特性指标至少包括特征谱线的谱线强度特征;S3、确定所述特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系;S4、根据所述特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系,确定硅橡胶复合绝缘材料的老化状态信息,所述老化状态信息至少包括硅橡胶复合绝缘材料的老化深度信息;步骤S1中,以相同的轰击条件,用脉冲激光束多次轰击待检测的硅橡胶复合绝缘材料表面上的选取点;步骤S3中,确定所述特定组成元素的光谱特性指标随轰击次数的变化关系,由此来反映所述特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系;步骤S4中,根据相同的轰击条件下轰击深度与轰击次数的线性关系,以及所述特定组成元素的光谱特性指标随轰击次数的变化关系,确定硅橡胶复合绝缘材料的老化深度信息。
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