[发明专利]一种荧光检漏法有效
申请号: | 201610032692.7 | 申请日: | 2016-01-18 |
公开(公告)号: | CN105675223B | 公开(公告)日: | 2019-02-26 |
发明(设计)人: | 邬博义;刘燕利;莫益明 | 申请(专利权)人: | 伟创力制造(珠海)有限公司 |
主分类号: | G01M3/20 | 分类号: | G01M3/20 |
代理公司: | 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 | 代理人: | 姜彦 |
地址: | 519180*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种荧光检漏法,通过以下步骤来完成检测:首先,将注射针管内部灌入荧光胶,备好待用;找出检漏样品合适位置开孔;在找到开孔的位置上使用注射针管从开孔位置且在一定压力下把注射针管内部的染色剂从样品内部挤压出来;使用相机或者摄像头记录样品泄漏位置;通过微切片观察找到的样品泄漏位置,找到电子产品组装过程的间隙,从而实现电子产品的检漏过程。本发明的有益效果是:该种荧光测漏法可以准确的找到漏点位置,发现为产品组装的过程改善提供了重要的依据,并且检漏过程快速,检测结构准确,操作简单,工作效率高,为电子产品的防水性能方面的发展具有极其重要的作用。 | ||
搜索关键词: | 一种 荧光 检漏 | ||
【主权项】:
1.一种荧光检漏法,其特征在于,该方法包括如下步骤:a、备胶,将注射针管内部灌入荧光胶,备好待用;b、开孔,在待测样品合适位置开孔;c、注胶,在b中找到开孔的位置上使用注射针管从开孔位置且在压力下把注射针管内部的染色剂从样品内部挤压出来;d、记录,使用相机或者摄像头记录c中样品泄漏位置;e、找漏,通过微切片观察d找到的样品泄漏位置,找到电子产品组装过程的间隙,从而实现电子产品的检漏过程。
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