[发明专利]一种现场残缺线性痕迹特征重合度比对方法有效

专利信息
申请号: 201610033607.9 申请日: 2016-01-19
公开(公告)号: CN105674887B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 潘楠;杨敬树;羿泽光 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明涉及一种现场残缺线性痕迹特征重合度比对方法,属于刑侦科学技术领域。本发明首先利用线性痕迹激光检测试验台装置的激光位移传感器检测承痕体上的残缺线性痕迹表面,获得离散化的信号数据,随后通过利用小波变换将需要进行降噪的数据进行分解并选定一个阈值进行降噪,去除肉眼可见的“毛刺”完成对数据的降噪处理,接着利用梯度特征识别法对痕迹信号按固定规划进行分箱处理描述痕迹特征,然后通过计算痕迹信号与样本信号二者重合的面积和二者全部覆盖的面积比值,最终通过比值作为重合度比对的结果,进而搜索到与待检测线性痕迹最为相似的线性痕迹样本,锁定作案工具。
搜索关键词: 一种 现场 残缺 线性 痕迹 特征 合度 方法
【主权项】:
1.一种现场残缺线性痕迹特征重合度比对方法,其特征在于:所述现场残缺线性痕迹特征重合度比对方法的具体步骤如下:Step1、利用线性痕迹激光检测试验台装置的激光位移传感器对承痕体上的残缺线性痕迹表面进行横向检测,形成检测信号波形f(x);Step2、通过小波分解,将激光检测信号波形f(x)进行数据平滑处理,以消除背景噪声干扰,得到平滑后的信号f1(x);Step3、梯度特征识别法对平滑后的痕迹信号按固定规划进行分箱处理描述痕迹特征;Step4、计算平滑后的痕迹信号与样本信号二者重合的面积和二者全部覆盖的面积比值;Step5、通过比值作为重合度比对的结果,进而搜索到与待检测线性痕迹最为相似的线性痕迹样本,锁定作案工具。
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