[发明专利]检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法

摘要

本发明提出了用于检测颗粒质量的质谱装置。该装置包括：电离源；离子阱；样品靶；激光器；紫外灯；分光镜；成像器；光电检测器以及计算单元。由此，可以在稳定的测量环境中，利用紫外灯实现多次改变单个带电颗粒的电荷数，进而确定该单个带电颗粒的质量，从而可以提高检测结果的可靠性。

主权项

1.一种检测颗粒质量的质谱装置，其特征在于，包括：电离源，所述电离源为激光诱导声波解吸电离源，适于将待测颗粒电离，以便获得带电颗粒；离子阱，所述离子阱适于囚禁所述带电颗粒；样品靶，所述样品靶设置在所述离子阱与所述电离源之间；激光器，所述激光器为连续激光器，适于发射激光，所述激光照射所述离子阱中的所述带电颗粒，以便获得带电颗粒的散射光；紫外灯，通过所述紫外灯发出紫外光照射被囚禁在所述离子阱中的所述带电颗粒，改变所述带电颗粒的电荷数；分光镜，所述分光镜被设置为适于接收所述散射光，并对所述散射光进行分光，以便获得第一散射光以及第二散射光；成像器，所述成像器适于接收所述第一散射光，并基于所述第一散射光对所述带电颗粒成像；光电检测器，所述光电检测器适于接收所述第二散射光；以及计算单元，所述计算单元与所述成像器和所述光电检测器电连接，用于接收所述成像器和所述光电检测器的信号，将所述光电检测器接收的光信号转换为电信号，得到所述带电颗粒的运动频率，并基于同一所述带电颗粒在具有不同电荷数时的运动状态以及运动频率，计算得到所述带电颗粒的电荷数并确定所述带电颗粒的质量。