[发明专利]低压电器电触头超声波无损检测用测试块及其组合和应用

摘要

本发明公开一种低压电器电触头超声波无损检测用测试块及其组合和应用，所述测试块由三部分组成：第一部分为凸字型部件，第二部分为圆环形密封部件，第三部分为密封盖；所述圆环形密封部件安装在所述凸字型部件底部，所述圆形密封盖设置在所述凸字型部件顶部，所述圆环形密封部件位于所述凸字型部件、所述密封盖之间；所述凸字型部件是指整体呈凸字型结构，凸字型的上下两部分均是圆柱体或长方体；所述凸字型部件内部均设有梯形孔。测试块单独使用其中任意一个测试块或者多个测试块任意组合。本发明可供检测人员方便的使用于探头、检测设备的性能测试、灵敏度的调整，检测特殊形状工件时的调整以及测量范围的调整等方面的工作。

主权项

1.一种低压电器领域电触头无损检测用测试块，其特征在于：所述测试块由三部分组成：第一部分为凸字型部件，第二部分为圆环形密封部件，第三部分为圆形密封盖；所述圆环形密封部件安装在所述凸字型部件底部，所述圆形密封盖设置在所述凸字型部件顶部；所述凸字型部件是指整体呈凸字型结构，凸字型的上下两部分均是圆柱体或长方体；所述凸字型部件内部均设有梯形孔；所述测试块为平面测试块、球面测试块或圆柱面测试块，其中：‑所述平面测试块，其凸字型部件的上下两部分均为圆柱体，圆柱体上表面为平面，内部设有梯形孔；所述平面测试块分为两种，使用时任选一种或两种：第一种：平面测试块，其圆柱体内部具有一梯形孔，且梯形孔和外部圆柱同轴；所述梯形孔为盲孔，所述梯形孔的顶部距离圆柱体的上表面有一厚度；所述测试块的所述梯形孔底部直径比所述梯形孔顶部直径大；第二种：平面测试块，其圆柱体内部设有第一、第二上下两个梯形孔；所述第二梯形孔位于所述第一梯形孔的下面位置；所述第二梯形孔的顶部为所述第一梯形孔的底部；所述第一梯形孔的顶部至圆柱体上表面有一厚度，所述第一梯形孔底部直径比所述第一梯形孔顶部直径大；所述第二梯形孔的底部直径大于所述第二梯形孔的顶部直径；‑所述球面测试块，其凸字型部件的上下两部分均为圆柱体，所述上半部分圆柱体的上表面是球面；所述球面测试块，其圆柱体内部设有一梯形孔，所述梯形孔与所述圆柱体同轴；所述测试块内部梯形孔的顶部圆心到所述球面有一厚度；所述测试块梯形孔底部直径大于所述梯形孔顶部直径；‑所述圆柱面测试块，其凸字型部件的上半部分为类长方体，下半部分为长方体；所述类长方体是指长方体的上表面是圆柱面，且其投影为正方形。