[发明专利]一种1mm频段紧缩场系统有效
申请号: | 201610036997.5 | 申请日: | 2016-01-20 |
公开(公告)号: | CN105676005B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 王学田;刘迟;寇雨馨;王伟 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 高燕燕 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明针对目前1mm频段紧缩场系统检测静区场后撤掉检测系统进行后续测试的情况,提出一种1mm频段紧缩场系统。包括紧缩场反射面、紧缩场馈源、馈源位置调整机构、静区场二维扫描架、二维转台;其中,发射端包括紧缩场反射面、紧缩场馈源以及馈源位置调整机构,馈源位置调整机构用来支撑紧缩场馈源;接收端包括静区场二维扫描架和二维转台,所述静区场二维扫描架水平维行程与地面平行,所述静区二维扫描架与所述二维转台连接,保证静区二维扫描架垂直维和水平维行程中心对准紧缩场反射面中心。 | ||
搜索关键词: | 紧缩场 静区 二维扫描 位置调整机构 紧缩场馈源 二维转台 频段 馈源 反射面 水平维 反射面中心 检测系统 系统检测 行程中心 发射端 接收端 平行 对准 垂直 测试 支撑 保证 | ||
【主权项】:
1.一种1mm频段紧缩场系统,其特征在于:该系统包括紧缩场反射面、紧缩场馈源、馈源位置调整机构、静区场二维扫描架、二维转台;其中,发射端包括所述紧缩场反射面、紧缩场馈源以及馈源位置调整机构,馈源位置调整机构用来支撑紧缩场馈源;接收端包括所述静区场二维扫描架和二维转台,所述静区场二维扫描架水平维行程与地面平行,所述静区场二维扫描架与所述二维转台连接,保证静区场二维扫描架垂直维和水平维行程中心对准紧缩场反射面中心;该系统的工作过程如下:步骤一、设置矢网信号频率为测试中心频率,设置二维扫描架y轴垂直扫描或x轴水平扫描,并分别记录S21幅、相数据,依照曲线状态调整紧缩场反射面水平或俯仰偏置;步骤二、馈源位置调整:将接收天线置于二维扫描面的中心点,观察S21相位曲线,通过馈源位置调整机构调整馈源位置使S21达到最小,此馈源位置为实际应安装位置;步骤三、紧缩场系统平面波场区测量:二维扫描架水平运动,按照垂直高度间隔地从上至下依次进行水平运动,并分别记录S21幅、相数据,依据曲线数据幅度差和相位差是否符合指标要求的幅度相位一致性确定出紧缩场系统平面波场区范围,如果符合则撤去静区场二维扫描架;步骤四、将静区场二维扫描架重新架设至二维转台上,进行平面波场区测量,如果出现S21相位曲线存在明显线性或周期性递增或递减趋势时,则进行转台俯仰角或水平方位角的调整;如果无此规律,但幅度差较大,则进行馈源位置调整;直到平面波场区测量结果符合测试指标要求。
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