[发明专利]一种超声聚焦探头散焦区内缺陷的灵敏度补偿方法有效
申请号: | 201610039070.7 | 申请日: | 2016-01-20 |
公开(公告)号: | CN105675727B | 公开(公告)日: | 2019-06-21 |
发明(设计)人: | 黎敏;周通;邓金华;宋亚男;徐金梧;徐科 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | G01N29/24 | 分类号: | G01N29/24;G01N29/32 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 皋吉甫 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种超声聚焦探头散焦区内缺陷的灵敏度补偿方法,所述灵敏度补偿方法通过制作补偿试样,实测灵敏度补偿曲线,利用超声显微镜获取待测试样的超声回波数据,提取出缺陷的X、Y、Z空间坐标,再根据实际的检测条件选取相对应的补偿曲线,最后根据缺陷的深度H缺和焦点的位置H焦确定补偿系数并完成灵敏度补偿,本发明实现了聚焦探头散焦区内缺陷检测灵敏度的补偿;与平探头的AVG曲线比较,更适用于聚焦探头,不仅实现了对散焦区缺陷的灵敏度补偿,而且具有较高的精度和可重复性,对于缺陷的快速检测、大小的表征具有重要意义,避免了缺陷大小的误判;通过灵敏度的补偿,有利于材料内缺陷尺寸及数量统计分析,可以更准确地评价金属材料的纯净度。 | ||
搜索关键词: | 一种 超声 聚焦 探头 散焦 区内 缺陷 灵敏度 补偿 方法 | ||
【主权项】:
1.一种超声聚焦探头散焦区内缺陷的灵敏度补偿方法,其特征在于,所述灵敏度补偿方法通过制作补偿试样,实测灵敏度补偿曲线,利用超声显微镜获取待测试样的超声回波数据,提取出缺陷的X、Y、Z空间坐标,再根据实际的检测条件选取相对应的补偿曲线,最后根据缺陷的深度H缺和焦点的位置H焦确定补偿系数并完成灵敏度补偿,所述方法包括以下步骤:步骤一,设计制作补偿试块;步骤二,绘制灵敏度补偿曲线;步骤三,待测试样超声数据采集;步骤四,缺陷位置坐标提取;步骤五,缺陷检测灵敏度补偿;所述步骤一具体为:选取与待测试样材质相同的材料,制作“翼形”阶梯试样,所述“翼形”阶梯试样制作是利用每个阶梯模拟大平底缺陷,大平底缺陷尺寸远大于聚焦探头的焦柱直径,不考虑缺陷的尺寸,只有缺陷所处深度不同;所述步骤二具体为:使用超声聚焦探头进行测试,保证增益不变,将探头的焦点聚焦在某个阶梯上,平移探头依次采集在不同阶梯的底面回波,绘制灵敏度补偿曲线,曲线的x轴代表缺陷的深度,y轴代表缺陷的回波幅值,曲线的斜率作为补偿系数,用作灵敏度补偿的权重;所述步骤三具体为:选取焦点能够聚焦在待测试样内部的聚焦探头,聚焦深度用H焦表示,以步进值为50um对整个试样内部进行粗扫,获得整个试样内部缺陷的C‑scan像图,然后在C‑scan像图中找到待分析的目标区域,再以步进值为5um,进行精确扫查,并保存全波数据;所述步骤四具体为:根据缺陷的回波信号,提取缺陷所在位置的X、Y、Z空间物理坐标,沿X方向的等间距平行线扫查,以平行线的扫查条数为m,每条平行线上的扫查点数为n,建立m×n的矩阵排列,根据扫查原理,先确定缺陷的X、Y坐标,再根据纵波的传播原理,通过公式
其中,c为超声波在材料中的传播速度,t为A‑scan波形中夹缺陷回波距界面波的时间,H缺则表示缺陷的深度位置,采集待测试样超声数据;所述步骤五具体为选取合适的补偿曲线,根据缺陷实际深度H缺偏离探头焦点H焦点的距离确定补偿系数,进而计算出灵敏度补偿值,将结果累加完成散焦区缺陷灵敏度的补偿;所述步骤五中选取合适的补偿曲线的方法为:根据补偿对象的检测条件选取探头频率一致,聚焦深度H焦以及增益参数一致的情况下所测得的补偿曲线。
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