[发明专利]超薄晶片的抛光方法在审
申请号: | 201610040761.9 | 申请日: | 2016-01-21 |
公开(公告)号: | CN106992112A | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 夏秋良 | 申请(专利权)人: | 苏州新美光纳米科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)32104 | 代理人: | 曹祖良,韩凤 |
地址: | 215123 江苏省苏州市苏州工*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种适用于超薄晶片的抛光方法,所述的抛光方法利用胶带和/或胶体对超薄晶片进行贴膜,然后再用模板法进行抛光。所述胶带包含两层胶膜和提供机械力的表层膜,表层膜通过胶膜跟晶片结合在一起。所述胶体用旋转涂布法涂布,或者用贴膜法涂布,或者用喷胶法涂布;涂布后的胶体直接进行固化,或者先通过烘烤表面流平后固化。其优点在于1)新增的膜可以作为晶片的一部分嵌入到真空吸附垫模板里面,使晶片在模板中不易滑出,且可以通过调节膜的厚度来对晶片的抛光后的厚度进行控制;2)新增的膜有较高的机械强度,可以给晶片提供机械支撑作用,使晶片在抛光过程中不易碎片。 | ||
搜索关键词: | 超薄 晶片 抛光 方法 | ||
【主权项】:
超薄晶片的抛光方法,其特征是,包括以下步骤:步骤一、在晶片非抛光面贴一层胶带,或涂布胶体(401)并固化,或者先在晶片非抛光面涂布胶体(401)然后在固化的胶体表面黏贴胶带,构成一个整体厚度增加的贴膜芯片;所述胶带包含两层:胶膜(302)和提供机械力的表层膜(301),表层膜(301)通过胶膜(302)跟晶片结合在一起;步骤二、将所述贴膜晶片吸附在模板(201)里面,晶片露出模板(201)外面的厚度在10μm~700μm,贴膜晶片整体嵌入模板(201)的厚度在10μm~700μm;步骤三、对晶片实施抛光工艺,使晶片达到预定厚度;步骤四、将贴膜晶片从模板(201)中取出,通过加热或辐射方式去除胶带或胶体(401),或者依次去除胶带和胶体(401)。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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