[发明专利]一种辐照样品自动调节探测装置有效

专利信息
申请号: 201610043917.9 申请日: 2016-01-25
公开(公告)号: CN105548220B 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 夏秀清;周自平;李军格;田华;刘斌;崔元平;罗正华;魏建民;徐绍梅;杜卫星;唐文欣;王俊伟 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心51210 代理人: 翟长明,韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种辐照样品自动调节探测装置。所述装置的工作平台上设置有用于调节样品位置的样品台调节架和用于监测样品辐射情况的探测器调节架。本发明的调节探测装置能对辐射环境下的样品位置进行自动调节,并对样品辐照情况进行探测,调节探测过程完全自动化。该装置具备样品尺寸和位置、探测器探测角度和路径控制功能,可实现多样品一次性辐照探测,也可完成对同一样品的多次、多角度、多位置辐照探测。
搜索关键词: 一种 辐照 样品 自动 调节 探测 装置
【主权项】:
一种辐照样品自动调节探测装置,其特征在于,所述装置含有工作平台(1),工作平台(1)的上表面设置有用于调节样品(15)位置的样品台调节架和用于监测样品(15)辐射情况的探测器调节架;所述的样品台调节架含有放置样品(15)的样品台(5),样品台(5)与下方的旋转台(6)固定,旋转台(6)的下方固定有向旋转台(6)提供动力的电机(13),电机(13)通过调节机构固定在工作平台(1)上;电机(13)与自动控制系统(12)通过线路连接;所述的探测器调节架为n型结构,包括上支架(3)和下支架(2);上支架(3)为探测器平台,有三个安装平面,每个安装平面上固定有一个探测器(4),相邻探测器(4)之间的中轴线夹角为45°,中轴线相交于样品(15)的中心;上支架(3)固定在下支架(2)上,绕下支架(2)上的旋转中心旋转;下支架(2) 固定在工作平台(1)上;所述的探测器(4)与自动控制系统(12)通过线路连接。
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