[发明专利]一种用于光电侦察系统定向定位精度测试的测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201610048288.9 申请日: 2016-01-25
公开(公告)号: CN105716593B 公开(公告)日: 2018-01-02
发明(设计)人: 陈洪彩;张明;冯婕;崔莹;李江;安静;付晓庆;杨旸;孙强 申请(专利权)人: 西安应用光学研究所
主分类号: G01C17/38 分类号: G01C17/38
代理公司: 西北工业大学专利中心61204 代理人: 陈星
地址: 710069 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提出为一种用于光电侦察系统定向定位精度测试的测试装置及测试方法,装置包括真北定位平台,用于安装平面反射镜,为真北方位角传递测试角,作为该测试装置的固有基准;安装平台,分别用于架设含可调节支架的平行光管、自准直平行光管,所述平行光管,用于提供各定向角度目标;可调节升降平台,用于架设调整光电侦察系统。光电侦察系统包括定位导航仪、光电转塔、侦察雷达。测试装置首次将真北方位角传递测试,应用于光学测试装置,实现了包含定位导航仪在内的多传感器的定向定位校准,解决了光电侦察系统的定向定位精度的测试。
搜索关键词: 一种 用于 光电 侦察 系统 定向 定位 精度 测试 装置 方法
【主权项】:
一种用于光电侦察系统定向定位精度测试的测试装置,其特征在于:包括真北定位安装平台、两个微调安装平台、可调节升降平台;真北定位安装平台位于北方,真北定位安装平台由上向下安装有3个平面反射镜,3个平面反射镜均面朝南方;第一微调安装平台位于西方,第一微调安装平台由上向下安装有朝向东方的3个平行光管,最上方的第一平行光管W1轴线与中间的第二平行光管W2轴线处于同一铅垂面上,最下方的第三平行光管W3轴线与所述铅垂面有偏移量,所述偏移量等于待测试光电侦察系统中侦察雷达校轴镜中心轴与定位导航仪安装基面的偏移量;第一平行光管W1高度与真北定位安装平台中最上方的第一平面反射镜N1高度一致;第二平行光管W2高度与真北定位安装平台中中间的第二平面反射镜N2高度一致;第三平行光管W3高度与真北定位安装平台中最下方的第三平面反射镜N3高度一致;第一平行光管W1轴线与第二平行光管W2轴线的高度差等于待测试光电侦察系统中侦察雷达校轴镜中心轴与光电转塔小视场中心轴的高度差,第二平行光管W2轴线与第三平行光管W3轴线的高度差等于待测试光电侦察系统中光电转塔小视场中心轴与定位导航仪安装基面平面镜的高度差;第二微调安装平台位于南方,第二微调安装平台上安装有朝向北方的第四平行光管S3,第四平行光管S3轴线高度与第三平行光管W3轴线高度一致,且第四平行光管S3轴线与第三平行光管W3轴线成90°角;可调节升降平台位于第四平行光管S3轴线与第三平行光管W3轴线的交点G点位置,可调节升降平台用于放置待测试光电侦察系统。
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