[发明专利]一种多天线移动终端的上行性能测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201610051997.2 申请日: 2016-01-26
公开(公告)号: CN105743553A 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 王强;张康乐;张建华;田磊;董悦;齐航;刘萌萌;徐超;刘健 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H04B7/04 分类号: H04B7/04;H04B7/06;H04B17/327;H04B17/309;H04B17/382;H04B17/391
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 朱绘;张文娟
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种多天线移动终端上行发射性能的测试系统及方法,主要包括:多天线待测终端,用于产生并发送L路信号;信号分组单元,用于对L路信号进行处理,形成K条多径信号,并将所述K条多径信号分为N组多径信号后输出;探测天线分配单元,用于根据全消声暗室中的探测天线数量及位置信息,将N组多径信号分配给相应的探测天线;测试单元,用于将N组多径信号通过探测天线发送给基站模拟器,并通过基站模拟器对接收到的信号进行处理并测量,得到所述多天线待测终端的上行发射性能。本发明能在真实环境下对多天线终端进行上行发射性能的测试。
搜索关键词: 一种 天线 移动 终端 上行 性能 测试 系统 方法
【主权项】:
一种多天线移动终端的上行性能测试系统,其特征在于,包括:多天线待测终端,用于产生并发送L路信号,其中,L为所述多天线待测终端的天线数;信号分组单元,用于对所述L路信号进行处理,形成K条多径信号,并将所述K条多径信号分为N组多径信号后输出;探测天线分配单元,用于根据全消声暗室中的探测天线数量及位置信息,将所述N组多径信号分配给相应的探测天线;测试单元,用于将所述N组多径信号通过探测天线发送给基站模拟器,并通过所述基站模拟器对接收到的信号进行处理并测量,得到所述多天线待测终端的上行发射性能。
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