[发明专利]一种多天线移动终端的上行性能测试系统及方法在审
申请号: | 201610051997.2 | 申请日: | 2016-01-26 |
公开(公告)号: | CN105743553A | 公开(公告)日: | 2016-07-06 |
发明(设计)人: | 王强;张康乐;张建华;田磊;董悦;齐航;刘萌萌;徐超;刘健 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | H04B7/04 | 分类号: | H04B7/04;H04B7/06;H04B17/327;H04B17/309;H04B17/382;H04B17/391 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 朱绘;张文娟 |
地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种多天线移动终端上行发射性能的测试系统及方法,主要包括:多天线待测终端,用于产生并发送L路信号;信号分组单元,用于对L路信号进行处理,形成K条多径信号,并将所述K条多径信号分为N组多径信号后输出;探测天线分配单元,用于根据全消声暗室中的探测天线数量及位置信息,将N组多径信号分配给相应的探测天线;测试单元,用于将N组多径信号通过探测天线发送给基站模拟器,并通过基站模拟器对接收到的信号进行处理并测量,得到所述多天线待测终端的上行发射性能。本发明能在真实环境下对多天线终端进行上行发射性能的测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 天线 移动 终端 上行 性能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种多天线移动终端的上行性能测试系统,其特征在于,包括:多天线待测终端,用于产生并发送L路信号,其中,L为所述多天线待测终端的天线数;信号分组单元,用于对所述L路信号进行处理,形成K条多径信号,并将所述K条多径信号分为N组多径信号后输出;探测天线分配单元,用于根据全消声暗室中的探测天线数量及位置信息,将所述N组多径信号分配给相应的探测天线;测试单元,用于将所述N组多径信号通过探测天线发送给基站模拟器,并通过所述基站模拟器对接收到的信号进行处理并测量,得到所述多天线待测终端的上行发射性能。
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