[发明专利]阵列基板及其制作方法有效
申请号: | 201610055888.8 | 申请日: | 2016-01-27 |
公开(公告)号: | CN105679714B | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 周志超 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种阵列基板及其制作方法。本发明的阵列基板的制作方法,通过采用一半色调光罩、及一道光刻制程对钝化层及刻蚀阻挡层进行图案化处理,在钝化层上形成对应于源极上方的第一过孔,在刻蚀阻挡层上形成位于源极与漏极之间的第二过孔与第三过孔,之后通过一道光刻制程在钝化层、源极、漏极、及刻蚀阻挡层上方形成经由第一过孔与源极相连的像素电极、经由第二过孔连接源极与有源层的第一连接层、以及经由第三过孔连接漏极与有源层的第二连接层,通过以上制程来减少具有刻蚀阻挡层结构的IGZO阵列基板的光刻制程数,将现有技术的6道光刻制程减少为5道光刻制程,从而节省一道光刻制程,减少了一道光罩的使用,降低了IGZO阵列基板的生产成本。 | ||
搜索关键词: | 阵列 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种阵列基板的制作方法,其特征在于,提供一基板(10),并在所述基板(10)上依次形成栅极(20)、栅极绝缘层(30)、有源层(40)、刻蚀阻挡层(50)、源极(51)和漏极(52);然后,在所述源极(51)、漏极(52)、及刻蚀阻挡层(50)上形成钝化层(60)并在同一道光刻制程中对所述钝化层(60)和刻蚀阻挡层(50)进行图案化处理,具体包括:步骤71、在所述钝化层(60)上涂布一光阻层(70);步骤72、采用一半色调光罩(80)对所述光阻层(70)进行曝光、显影;步骤73、通过至少两次干蚀刻制程对所述光阻层(70)、及钝化层(60)进行蚀刻,使所述钝化层(60)上形成裸露出部分源极(51)的第一过孔(63)和位于源极(51)与漏极(52)之间且宽度大于源极(51)与漏极(52)之间间隔以裸露出刻蚀阻挡层(50)及部分源极(51)与漏极(52)的缺口(68);同时,在所述刻蚀阻挡层(50)上通过所述缺口(68)裸露出的区域上形成用于与所述有源层(40)连通的第二过孔(53)与第三过孔(54);步骤74、剥离所述钝化层(60)上残留的光阻层(70)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造