[发明专利]存储器内读操作定时器数值的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201610056473.2 | 申请日： | 2016-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN105741882B | 公开（公告）日： | 2018-11-16 |
| 发明（设计）人： | 杨光军 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张凤伟;吴敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种存储器内读操作定时器数值的测试方法及装置。所述方法包括：向所述存储器内输入地址信号以及控制信号，通过所述控制信号控制所述存储器内部的读取电路按照所述地址信号执行读取操作；调整所输入的地址信号的翻转周期，并检测所述存储器按照调整后的所述地址信号执行所述读取操作时，平均功耗的变化情况；当检测到所述平均功耗的变化趋势发生跳变时，将所述平均功耗的变化趋势发生跳变时对应的所述地址信号的翻转周期，作为所述存储器内所述读操作定时器的数值并输出。应用所述方法可以在存储器封装后，获得存储器内读操作定时器的数值，便于用户使用。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 操作 定时器 数值 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种存储器内读操作定时器数值的测试方法，其特征在于，包括：向所述存储器内输入地址信号以及控制信号，通过所述控制信号控制所述存储器内部的读取电路按照所述地址信号执行读取操作；调整所输入的地址信号的翻转周期，并检测所述存储器按照调整后的所述地址信号执行所述读取操作时，所述存储器的平均功耗的变化情况；当检测到所述平均功耗的变化趋势发生跳变时，将所述平均功耗的变化趋势发生跳变时对应的所述地址信号的翻转周期，作为所述存储器内所述读操作定时器的数值并输出；其中，设定所述平均功耗在预设时间内数值的变化范围，并在所述平均功耗在预设时间内数值达到所设定变化范围时，判定所述平均功耗的变化趋势发生跳变。
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