[发明专利]评价高分子材料的硬度以及能量损失的方法

摘要

本申请提供测定精度优良、且对各试样的性能差也能充分评价的评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。本发明涉及通过向高分子材料照射X射线或中子束，实施X射线散射测定或中子束散射测定，从而评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。

主权项

1.一种评价高分子材料的硬度的方法，是通过向高分子材料照射X射线或中子束，实施X射线散射测定或中子散射测定，从而评价高分子材料的硬度的方法，其中，对于通过所述X射线散射测定或中子散射测定得到的散射强度曲线I(q)，用下述(式2‑2)～(式2‑5)进行曲线拟合而得出每单位体积中惯性半径Rg为1nm～100μm的散射体的个数N，使用该个数N来评价硬度；(式2‑2)(式2‑3)(式2‑4)Gi＝Ni(σVi)2(式2‑5)(式2‑1)其中，式中，θ：散射角，λ：X射线或中子束的波长，Pi、Gi、Rgi、Dfi：拟合参数，Ni：每单位体积的散射体的个数，Vi：具有惯性半径Rgi的散射体的体积，n：整数，z、t：任意的正数，σ：散射体和周围的基质材料之间的电子密度差或者散射体和周围的氘化溶剂之间的散射长度密度差。