[发明专利]一种纳米磁性材料的测量装置及其方法有效
申请号: | 201610061692.X | 申请日: | 2016-01-28 |
公开(公告)号: | CN105699705B | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 丁喜冬 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | G01Q60/50 | 分类号: | G01Q60/50 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 胡辉 |
地址: | 510275 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种纳米磁性材料的测量装置及其方法,装置包括被测磁性样品、第一电磁线圈、调制磁场控制器、磁性探针、检测磁场励磁装置和磁力显微镜控制部分,所述磁性探针位于被测磁性样品的正上方,所述第一电磁线圈在检测磁场励磁装置的驱动下产生交变磁场,使磁性探针受到相应频率的磁激发并在该频率下进行振动;所述第一电磁线圈还在调制磁场控制器的驱动下产生强度可控的调制磁场,对被测磁性样品进行磁调制,然后通过磁力显微镜控制部分搭载的磁性探针对被测磁性样品进行磁力成像。本发明通用性强,适用于对在大气环境及室温下呈现弱磁性尤其是超顺磁性的样品进行准确观测。本发明可广泛应用于测量技术领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 磁性材料 测量 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种纳米磁性材料的测量装置,其特征在于:包括被测磁性样品、第一电磁线圈、调制磁场控制器、磁性探针、检测磁场励磁装置和磁力显微镜控制部分,所述磁性探针位于被测磁性样品的正上方,所述第一电磁线圈在检测磁场励磁装置的驱动下产生交变磁场,使磁性探针受到相应频率的磁激发并在该频率下进行振动;所述第一电磁线圈还在调制磁场控制器的驱动下产生强度可控的调制磁场,对被测磁性样品进行磁调制,然后通过磁力显微镜控制部分搭载的磁性探针对被测磁性样品进行磁力成像;所述调制磁场控制器包括交变磁场调制部分、混合磁场调制部分及恒定磁场调制部分这三个可选的档位;还包括加法器、磁力信号检测器、磁力显微镜检测部分和显示器,所述检测磁场励磁装置的输出端和磁力显微镜控制部分的输出端均与加法器的输入端连接,所述加法器的输出端分别与磁力信号检测器的输入端和第一电磁线圈连接,所述磁力显微镜控制部分的输出端通过磁力信号检测器进而与磁力显微镜检测部分的输入端连接,所述磁力显微镜检测部分的输出端与显示器的输入端连接;还包括第二电磁线圈、磁力信号检测器、磁力显微镜检测部分和显示器,所述第二电磁线圈在第一电磁线圈与被测磁性样品不处于垂直关系时为磁性探针提供垂直方向的磁场,所述第一电磁线圈与调制磁场控制器连接,所述检测磁场励磁装置分别与第二电磁线圈以及磁力信号检测器的输入端连接,所述磁力显微镜控制部分的输出端通过磁力信号检测器进而与磁力显微镜检测部分的输入端连接,所述磁力显微镜检测部分的输出端与显示器的输入端连接。
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