[发明专利]一次曝光光栅剪切成像装置及数据采集与信息提取方法

摘要

本发明公开了一种一次曝光光栅剪切成像装置及数据采集与信息提取方法，所述方法包括：S21：调整光源和相位光栅，使平行X射线束垂直入射；S22：空置样品转台，相位光栅沿垂直于平行X射线束且垂直于栅条的方向逐步平移，每平移一步后采集并存储相位光栅的光强值；S23：根据每平移一步后采集的光强值确定角度信号响应函数；S24：调整高分辨率探测器，使探测单元与栅条对齐；S25：放置样品，采集并存储样品的光强值；S26：根据各探测单元采集的各样品单元光强值分别组合出相位光栅位移为0、P/4、P/2、3P/4时的样品投影像；S27：根据相位光栅的角度信号响应函数和四张样品投影像，提取样品信息。本发明无需使用分析光栅，且一次曝光采集即可组合四张投影像。

主权项

1.一种一次曝光光栅剪切成像装置，其特征在于，所述装置包括光源、相位光栅、样品转台和高分辨率探测器；所述光源用于产生平行X射线束；所述相位光栅、样品转台和高分辨率探测器沿所述平行X射线束的入射方向依次设置；所述相位光栅的占空比为1:1，周期为P；所述样品转台用于放置样品；所述高分辨率探测器包括若干个排列成二维面阵的探测单元，所述探测单元的边长为P/4，所述高分辨率探测器用于采集并存储所述样品的光强值，所述样品的光强值包括每一探测单元采集的样品单元光强值，以根据各探测单元采集的各所述样品单元光强值分别组合出所述相位光栅位移为0、P/4、P/2、3P/4时的四张样品投影像。