[发明专利]光学检测系统与应用其的光学检测方法在审
| 申请号： | 201610065887.1 | 申请日： | 2016-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN107024184A | 公开（公告）日： | 2017-08-08 |
| 发明（设计）人： | 张维哲;简宏达;林思延;潘世耀 | 申请（专利权）人： | 致茂电子（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海宏威知识产权代理有限公司31250 | 代理人： | 袁辉 |
| 地址： | 215011 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光学检测系统包含平台、第一三维扫描装置、第二三维扫描装置、第一二维取像装置、第二二维取像装置、转向装置与运输装置。平台具有第一检测区、第二检测区、入料区、转向区与出料区。第一三维扫描装置与第一二维取像装置位于第一检测区。第二三维扫描装置与第二二维取像装置位于第二检测区。第一三维扫描装置与第二三维扫描装置量测待测物的三维形貌。第一二维取像装置与第二二维取像装置量测待测物的二维形貌。转向装置依序将位于转向区的待测物转向。运输装置将待测物于入料区、第一检测区、转向区、第二检测区与出料区之间移动。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 系统 应用 方法 | ||
【主权项】：
一种光学检测系统，其特征在于，包含：一平台，具有一第一检测区、一第二检测区、一入料区、一转向区与一出料区，其中该转向区位于该第一检测区与该第二检测区之间，该第一检测区位于该入料区与该转向区之间，且该第二检测区位于该转向区与该出料区之间；一第一三维扫描装置与一第二三维扫描装置，分别位于该第一检测区与该第二检测区，其中该第一三维扫描装置与该第二三维扫描装置用以量测多个待测物的三维形貌；一第一二维取像装置与一第二二维取像装置，分别位于该第一检测区与该第二检测区，其中该第一二维取像装置与该第二二维取像装置用以量测该些待测物的二维形貌；一转向装置，用以依序将位于该转向区的该些待测物转向；以及一运输装置，用以将该些待测物于该入料区、该第一检测区、该转向区、该第二检测区与该出料区之间移动。
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