[发明专利]具有反射效果切割道的垂直LED芯片结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201610066343.7 申请日: 2016-01-29
公开(公告)号: CN107026226A 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 魏天使;徐慧文;李起鸣 申请(专利权)人: 映瑞光电科技(上海)有限公司
主分类号: H01L33/46 分类号: H01L33/46;H01L33/00
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 余明伟
地址: 201306 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种具有反射效果切割道的垂直LED芯片结构及其制备方法,包括1)提供蓝宝石衬底,于蓝宝石衬底上依次生长UID-GaN层、N-GaN层、多量子阱层以及P-GaN层;2)于对应于后续要形成台阶结构的边缘及切割道区域内的P-GaN层表面形成刻蚀阻挡层;3)于P-GaN层及刻蚀阻挡层表面形成P电极;4)提供键合衬底,将键合衬底与步骤3)得到的结构键合在一起;5)剥离蓝宝石衬底;6)去除UID-GaN层;7)对N-GaN层表面进行表面粗化,形成粗化微结构;8)采用ICP刻蚀工艺去除切割道区域的GaN,同时形成台阶结构;9)于表面粗化后的N-GaN层表面制备N电极。本发明增加了垂直LED芯片结构中台阶结构边缘及切割道区域的反射效果,大大增加了垂直LED芯片结构的出光效果。
搜索关键词: 具有 反射 效果 切割 垂直 led 芯片 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种具有反射效果切割道的垂直LED芯片结构的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:1)提供蓝宝石衬底,于所述蓝宝石衬底上依次生长UID‑GaN层、N‑GaN层、多量子阱层以及P‑GaN层;2)于对应于后续要形成台阶结构的边缘及切割道区域内的所述P‑GaN层表面形成刻蚀阻挡层;3)于所述P‑GaN层及所述刻蚀阻挡层表面形成P电极;4)提供键合衬底,将所述键合衬底与步骤3)得到的结构键合在一起,且所述P电极的表面与所述键合衬底的表面紧密贴合;5)剥离所述蓝宝石衬底;6)去除所述UID‑GaN层;7)对所述N‑GaN层表面进行表面粗化,形成粗化微结构;8)采用ICP刻蚀工艺去除切割道区域的GaN,同时形成台阶结构;9)于表面粗化后的所述N‑GaN层表面制备N电极。
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