[发明专利]一种检测高光倒角大小边的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201610066970.0 申请日: 2016-01-29
公开(公告)号: CN107024158A 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 陈浩 申请(专利权)人: 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/02
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心11010 代理人: 梁军
地址: 518057 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种检测高光倒角大小边的装置及方法,该装置包括点光源、待测件固定装置和投影刻度板;其中,待测件固定装置用于固定待测件;点光源,位于待测件固定装置和投影刻度板之间,照射待测件,以使待测件反射的光线呈现在投影刻度板上;投影刻度板接收待测件反射的光线,并对光线的投影区域进行刻度测量。本发明的检测高光倒角大小边的装置提供了一个可以量化的检测标准,方便操作人员进行检测,解决了现有技术高光倒角非常小、且高光边容易划伤,只能根据经验人为的通过肉眼检测高光倒角大小边是否符合标准,没有一个量化的标准,且肉眼判断误差较大的问题。
搜索关键词: 一种 检测 倒角 大小 装置 方法
【主权项】:
一种检测高光倒角大小边的装置,其特征在于,包括:点光源、待测件固定装置和投影刻度板;其中,所述待测件固定装置用于固定待测件;所述点光源,位于所述待测件固定装置和所述投影刻度板之间,照射所述待测件,以使所述待测件反射的光线呈现在所述投影刻度板上;所述投影刻度板接收所述待测件反射的光线,并对所述光线的投影区域进行刻度测量。
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