[发明专利]多路交流分相同步采样方法及电路

摘要

本发明公开了一种多路交流分相同步采样方法及电路，多路模拟开关选通A相交流量通道，控制AD转换启动；等待转换结束，选通B相交流量通道，读取A相转换结果到MCU处理器内部RAM中；经过T/(N*3)时间后，AD转换启动，等待转换结束，选通C相交流量通道，读取B相转换结果到MCU处理器内部RAM中；经过T/(N*3)时间后，AD转换启动，等待转换结束，选通A相交流量通道，读取C相转换结果到MCU处理器内部RAM中，三相交流量完成1点采样；经过T/(N*3)时间后，重复步骤进行N个采样后完成三相交流信号一周波采样。节省了2/3的A/D转换通道，提高AD转换通道利用率，节省了硬件资源，降低了硬件成本。

主权项

1.多路交流分相同步采样方法，其特征是，在交流信号的一个周期T内，采取N点等间隔采样方式，包括：步骤一，多路模拟开关选通A相交流量通道，控制AD转换启动；等待转换结束，切换多路模拟开关选通B相交流量通道，读取A相转换结果到MCU处理器内部RAM中；步骤二，经过T/(N*3)时间后，AD转换启动，等待转换结束，切换多路模拟开关选通C相交流量通道，读取B相转换结果到MCU处理器内部RAM中；步骤三，又经过T/(N*3)时间后，AD转换启动，等待转换结束，切换多路模拟开关选通A相交流量通道，读取C相转换结果到MCU处理器内部RAM中，三相交流量完成1点采样；步骤四，再次经过T/(N*3)时间后，重复所述步骤一到步骤三进行N个采样后完成三相交流信号一周波采样。