[发明专利]利用查找表移位寄存器进行SRAM型FPGA刷新效果验证的方法有效
| 申请号： | 201610070861.6 | 申请日： | 2016-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN105740087B | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 赵元富;李学武;张帆;姜爽;陈雷;李琦;祁逸;刘进 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及利用查找表移位寄存器进行SRAM型FPGA刷新效果验证的方法，包括步骤(1)、在FPGA中构建由查找表构成的移位寄存器组，并为移位寄存器组设置初始值；(2)、完成FPGA的上电配置，向移位寄存器组输入串行数据驱动移位寄存器组进行移位；(3)、当前移位寄存器内的保存值与移位寄存器的初始值不同时，可停止向移位寄存器组输入串行数据；(4)、刷新SRAM型FPGA，直至移位寄存器组的所有存储值均被刷新；(5)、再次向移位寄存器组输入串行数据驱动移位寄存器组进行移位，将移位寄存器组中的保存值全部移出；(6)、判断是否刷新成功，本发明方法不需要进行辐照试验，也不需要回读，具有成本低、操作简单、判断准确的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 查找 移位寄存器 进行 sram fpga 刷新 效果 验证 方法 | ||
【主权项】：
1.利用查找表移位寄存器进行SRAM型FPGA刷新效果验证的方法，其特征在于：(1)、在SRAM型FPGA中构建由查找表构成的移位寄存器组，并为移位寄存器组设置初始值；(2)、完成SRAM型FPGA的上电配置，向移位寄存器组输入串行数据驱动移位寄存器组进行移位；(3)、当移位寄存器组新移入值后，当前移位寄存器内的保存值与移位寄存器的初始值不同时，停止向移位寄存器组输入串行数据；(4)、刷新SRAM型FPGA，直至移位寄存器组的所有存储值均被刷新；(5)、再次向移位寄存器组输入串行数据驱动移位寄存器组进行移位，将移位寄存器组中的保存值全部移出；(6)、对比步骤(5)中的移出值与步骤(1)中设置的初始值是否相同，若相同则判断刷新成功，若不同则判断刷新未成功。
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