[发明专利]特征峰强度标准偏差鉴别颗粒流激光等离子体光谱的方法有效
| 申请号： | 201610071040.4 | 申请日： | 2016-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN105784678B | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 姚顺春;徐嘉隆;白凯杰;卢志民;殷可经;陆继东 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/71 | 分类号： | G01N21/71 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 何淑珍 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开特征峰强度标准偏差鉴别颗粒流激光等离子体光谱的方法。本发明利用激光诱导击穿光谱检测系统得到颗粒流样品的激光等离子体光谱数据，再计算所选取元素谱线的特征峰像素点强度的标准偏差值，根据设定的阈值鉴别光谱数据为有效或无效。本发明综合利用了激光等离子体光谱中元素谱线特征峰的分布信息，简化了鉴别光谱数据的过程，提高了剔除无效光谱的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 特征 强度 标准偏差 鉴别 颗粒 激光 等离子体 光谱 方法 | ||
【主权项】：
1.特征峰强度标准偏差鉴别颗粒流激光等离子体光谱的方法，其特征在于包括如下步骤：1)利用激光诱导击穿光谱检测系统对待测的颗粒流样品进行检测，得到激光等离子体光谱数据；2)根据样品中化学组分及元素电离能，确定用于鉴别光谱数据的元素谱线；3)根据式(1)计算所选元素谱线特征峰像素点强度的标准偏差：![]()
其中，S为标准偏差，Xi为特征峰内第i个像素点强度，![]()
为特征峰内所有像素点强度的平均值，N为特征峰内像素点的个数；4)根据设定的标准偏差阈值对所有颗粒流的激光等离子体光谱进行鉴别，大于标准偏差阈值的光谱作为有效数据保存，小于标准偏差阈值的光谱作为无效数据剔除。
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