[发明专利]随机存取存储器的测试方法及装置在审
| 申请号： | 201610072807.5 | 申请日： | 2016-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN105761759A | 公开（公告）日： | 2016-07-13 |
| 发明（设计）人： | 戴清海;卢浩;李志雄;邓恩华;吴方 | 申请（专利权）人： | 深圳市江波龙电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于测试技术领域，提供了随机存取存储器的测试方法及装置，包括：按照第一地址顺序向RAM的所有地址写入第一数据；按照第二地址顺序，向所述RAM的所有地址依次执行：校验该地址的所述第一数据，之后向该地址写入第二数据，所述第一数据与所述第二数据的异或结果为1；按照第三地址顺序，向所述RAM的所有地址依次执行：校验该地址的所述第二数据，之后向该地址写入第一数据；按照第四地址顺序，向所述RAM的所有地址依次执行：校验该地址的所述第一数据。本发明在保障了故障覆盖率的前提下，尽可能地缩短了测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 随机存取存储器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种随机存取存储器RAM的测试方法，其特征在于，包括：按照第一地址顺序向RAM的所有地址写入第一数据；按照第二地址顺序，向所述RAM的所有地址依次执行：校验该地址的所述第一数据，之后向该地址写入第二数据，所述第一数据与所述第二数据的异或结果为1；按照第三地址顺序，向所述RAM的所有地址依次执行：校验该地址的所述第二数据，之后向该地址写入第一数据；按照第四地址顺序，向所述RAM的所有地址依次执行：校验该地址的所述第一数据。
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