[发明专利]HPAM水解度对HPAM-表面活性剂复配体系气液界面性质影响的模拟方法有效

专利信息
申请号: 201610073781.6 申请日: 2016-02-02
公开(公告)号: CN105567207B 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 孙霜青;朱倩倩;徐建昌;王洪兵;李春玲;胡松青 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: C09K8/584 分类号: C09K8/584;C09K8/588
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 张红凤
地址: 266580 山*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种HPAM水解度对HPAM‑表面活性剂复配体系气液界面性质影响的模拟方法,其是利用分子动力学模拟的方法改变HPAM的水解度,用以考察不同水解度的聚丙烯酰胺对表面活性剂气液界面性质的影响。该方法首先通过复配体系平衡构型研究不同水解度的HPAM在气液界面的分布情况,然后利用径向分布函数、密度分布曲线等参数考察HPAM水解度对表面活性剂气液界面性质的影响。本发明模拟方法可以从微观角度解释聚合物和表面活性剂相互作用的机理,为HPAM‑表面活性剂复配体系气液界面性质的研究提供一定的理论指导。
搜索关键词: 水解度 气液界面 表面活性剂复配体系 表面活性剂 性质影响 分子动力学模拟 径向分布函数 密度分布曲线 聚丙烯酰胺 复配体系 理论指导 平衡构型 聚合物 气液 考察 微观 研究
【主权项】:
1.HPAM水解度对HPAM‑表面活性剂复配体系气液界面性质影响的模拟方法,其特征在于,依次包括以下步骤:a构建初始模型,利用Materials Studio软件中的Sketch工具构建HPAM分子、表面活性剂分子、水分子和抗衡离子,改变HPAM分子链中‑COO‑与‑CO‑NH2的比例用以模拟不同的水解度,并对各个分子进行电荷分配和初步优化;利用Amorphous Cell Construction工具和Build Layers工具构建气液界面模型,并随机向水盒子中加入与‑COO‑和表面活性剂头基总数相同的抗衡离子,以保持体系的电中性;将优化后的聚合物链对称的放于水层界面处,并使两条聚合物之间的距离大于两倍截断半径;b计算平衡构型,利用Discover模块对步骤a的模型进行分子力学优化,再对优化后的模型进行分子动力学模拟,获得平衡构型;c综合分析,根据步骤b中得到的平衡构型的轨迹文件,利用Forcite模块中的Analysis工具分析表面活性剂头基周围水分子和钠离子的径向分布函数、表面活性剂头基的密度分布参数,具体展开分析聚丙烯酰胺水解度对聚合物‑表面活性剂复配体系气液界面性质的影响。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油大学(华东),未经中国石油大学(华东)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610073781.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top