[发明专利]使用串联飞行时间质谱仪测量碎片离子质谱有效

专利信息
申请号: 201610076521.4 申请日: 2016-02-03
公开(公告)号: CN105845539B 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 克劳斯·克斯特 申请(专利权)人: 布鲁克道尔顿有限公司
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;H01J49/40
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 顾丽波,李荣胜
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了一种使用飞行时间质谱仪获得碎片离子质谱的方法,其中获得不同母离子种类的碎片离子的混合质谱并相互比较,从而确定源自相同母离子种类的碎片离子的信号。所述飞行时间质谱仪包含离子源、飞行路径、反射器和离子检测器。飞行路径最好无场并位于反射器之前,且反射器最好具有以二次方增加的反射电势。
搜索关键词: 使用 串联 飞行 时间 质谱仪 测量 碎片 离子
【主权项】:
一种使用飞行时间质谱仪测量碎片离子质谱的方法,该飞行时间质谱仪包含离子源、飞行路径、反射器和离子检测器,其中,(a)每次使用不同的加速电压来获得至少两个混合飞行时间谱,该混合飞行时间谱包含来自一个以上母离子种类的碎片离子的信号,并且碎片离子在反射器之前的飞行路径中产生;和(b1)相互比较混合飞行时间谱,以由此识别源自一个母离子种类的那些碎片离子的信号;和/或(b2)确定混合飞行时间谱中碎片离子种类的飞行时间并用于计算碎片离子和相关母离子的质荷比。
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