[发明专利]高占空比俘获离子迁移谱仪有效
| 申请号： | 201610076654.1 | 申请日： | 2016-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN105869980B | 公开（公告）日： | 2018-10-12 |
| 发明（设计）人： | 梅尔文·安德鲁·帕克;奥利弗·拉瑟 | 申请（专利权）人： | 布鲁克道尔顿有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 顾丽波;井杰 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提供了一种俘获离子迁移率分析器和离子迁移率分析器的操作方法。所述俘获离子迁移率分析器包括用于沿轴径向地限定离子的射频场、具有轴向直流电场的区域和沿轴对抗所述区域中直流电场的气流，其中所述区域包括轴向直流电场增加的上升沿或轴向直流电场减小的下降沿，其中电场强度沿轴的斜率在边沿的主要部分上并不恒定。 | ||
| 搜索关键词： | 高占空 俘获 离子 迁移 | ||
【主权项】：
1.一种离子迁移率分析器，包括用于沿轴径向地限定离子的射频场、具有轴向直流电场的区域和沿轴对抗所述区域中的直流电场的气流，其中，所述区域包括轴向直流电场增加的上升沿，或轴向直流电场减小的下降沿，所述离子迁移率分析器特征在于电场强度沿轴的斜率在所述上升沿或下降沿的30％以上不恒定。
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