[发明专利]一种单颗磨粒高速连续划擦干涉行为测试机及其应用有效

专利信息
申请号: 201610078079.9 申请日: 2016-02-04
公开(公告)号: CN105717002B 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 姜峰;张涛;言兰;徐西鹏 申请(专利权)人: 华侨大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/10
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭
地址: 362000*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种单颗磨粒高速连续划擦干涉行为测试机及其应用,主要包括固定座,工作台,电主轴,试件,X向进给装置,Z向进给装置,夹紧装置,工具头,修盘装置,测量系统,对刀仪等;通过修盘装置对试件表面修盘后,电主轴带动试件旋转通过修盘装置对试件表面修盘后,电主轴带动试件旋转,通过Z向进给装置和X向进给装置带动工具头以一定切深沿试件径向进给,磨粒在试件表面划擦形成预定干涉程度的划痕,测量系统在此过程中采集数据。本发明可以在高速条件下准确测得单颗磨粒划擦力,测试精度较高,能够模拟高速磨削过程磨粒间的干涉行为,相关测试结果可用于磨削机理的深入研究以及磨削参数的优化。
搜索关键词: 一种 单颗磨粒 高速 连续 干涉 行为 测试 及其 应用
【主权项】:
1.一种单颗磨粒连续划擦干涉行为测试机,其特征在于:包括:固定座;水平布置的工作台,固接在固定座顶部;垂直布置的电主轴,固接在固定座,且电主轴向上穿出工作台;试件,固接在电主轴顶部且与电主轴同轴,通过电主轴带动试件旋转;X向进给装置,装接在工作台,且进给方向垂直于电主轴回转轴线并沿试件径向进给;Z向进给装置,装接在X向进给装置,且进给方向平行于电主轴回转轴线;夹紧装置,可装拆地装接在Z向进给装置;工具头,可装拆地装接在夹紧装置;工具头顶端固接有磨粒;用于对试件表面进行修盘的修盘装置,可装拆地装接在Z向进给装置;用于采集划擦过程数据的测量系统,与工具头相连;对刀仪,固接在工作台,该对刀仪上设有用于调节对刀仪的Z轴设定器;通过修盘装置对试件表面修盘后,电主轴带动试件旋转,通过Z向进给装置和X向进给装置带动工具头以一定切深沿试件径向进给,磨粒在试件表面划擦形成预定干涉程度的划痕,测量系统在此过程中采集数据;所述固定座包括上下固接的床身与底座;所述工作台固接在床身顶部;所述电主轴固接在床身;所述工作台与固定座之间设有一能调平和支撑工作台的调整装置;所述工作台上固接有支撑架,该支撑架包括对称设置的长度不等的两个支撑臂,较短的支撑臂与工作台之间设有一能调整较短支撑臂高度的微调装置;所述X向进给装置固定在该两个支撑臂顶部;通过微调装置调整较短支撑臂高度以调节X向进给装置进给方向;所述微调装置的最小位移分辨率优于10nm。
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