[发明专利]芯片集成的多角度透光轴起偏器有效
| 申请号： | 201610079196.7 | 申请日： | 2016-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN105549145B | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 余宇;秦亚光;张新亮 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G02B5/30 | 分类号： | G02B5/30 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 房德权 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片集成的多角度透光轴的起偏器，包括入射波导部分、偏振选择性损耗部分以及出射波导部分，偏振选择性损耗部分由对称性打破部分与损耗部分组成。入射偏振态光首先经过入射波导部分输入，以本征模式的形式传播。进入偏振选择性损耗部分，由于波导结构的纵向对称性被打破，其本征模式的光轴会发生旋转，光轴旋转的角度可控。如果选择性对其中一个本征模式引入较大损耗，当偏振选择性损耗部分的长度选的足够长时，这一本征模式被完全损耗掉，从而过滤出特定偏振角度的偏振光。最后由出射波导部分耦合输出。本发明首次提出了多角度透光轴的芯片集成起偏器结构。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 集成 角度 透光 轴起偏器 | ||
【主权项】：
1.芯片集成的多角度透光轴起偏器，其特征在于，包括三个部分：入射波导部分、偏振选择性损耗部分以及出射波导部分，其中，所述偏振选择性损耗部分包括对称性打破部分和损耗部分；所述对称性打破部分，用于打破光轴结构的对称性，使得光轴结构的本征光轴发生旋转；所述损耗部分，用于使特定的本征模式损耗增大，实现偏振选择损耗的功能。
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