[发明专利]光学分析仪有效

专利信息
申请号: 201610079436.3 申请日: 2016-02-04
公开(公告)号: CN105866029B 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 长井悠佑;小川佳祐;渡边真人;神宫句实子;藤原理悟;山崎智之 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 倪斌
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供了一种光学分析仪,用于对从作为光源的LED发射的光量进行反馈控制,其中,使得光学系统的结构简单并且确保光学系统布置的自由度。在从光投射单元1到样品单元3的光路上设置用于在将作为未聚焦光的光部分释放同时聚焦大多数光的光学部件2。可以使用简单的配置(例如,彼此间隔开预定距离的两个球透镜)来实现光学部件2。光学部件2聚焦的光作为测量光被投射到样品单元3中。同时,第二光电检测器5布置在未聚焦光到达的位置。第二光电检测器5根据已经进入第二光电检测器5的光(作为监测光)的量来产生检测信号,并且通过驱动电流控制单元6和电流源7来控制要供应给LED的驱动电流,使得将光量维持在固定级别。
搜索关键词: 光学 分析
【主权项】:
1.一种光学分析仪,用于对样品进行分析,所述光学分析仪包括:a)光源,由驱动电流驱动,从第一发光点和第二发光点发光;b)光学部件,布置在从所述光源到所述样品的光路上,根据从所述第一发光点发出的光产生聚焦到所述样品上的聚焦光,根据从所述第二发光点发出的光产生未聚焦光;c)光检测器,相对于所述光学部件配置在与所述样品相同的一侧,并且配置在所述未聚焦光到达的位置处;以及d)控制单元,用于基于所述光检测器产生的强度信号来控制所述驱动电流,使得从所述光源发出的光的量处于固定级别。
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