[发明专利]高分子材料的劣化诊断方法及高分子材料的劣化诊断装置在审
| 申请号： | 201610079699.4 | 申请日： | 2016-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN105891234A | 公开（公告）日： | 2016-08-24 |
| 发明（设计）人： | 冈田直喜;大木秀人;藤根正义;宇都宫里佐 | 申请（专利权）人： | 日新电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种高分子材料的劣化诊断方法及高分子材料的劣化诊断装置，本发明的高分子材料的劣化诊断方法，进行用于电气设备的高分子材料的劣化诊断，对诊断对象的所述高分子材料照射1GHz～50GHz内的任意的频率的电波，由基于所照射的电波的来自所述高分子材料的出射波测定复介电常数，并根据所述介电常数的至少实数部的值进行所述高分子材料的劣化诊断。藉此，可容易且适当地进行诊断对象的高分子材料的劣化诊断。 | ||
| 搜索关键词： | 高分子材料 诊断 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种高分子材料的劣化诊断方法，其进行用于电气设备的高分子材料的劣化诊断，其特征在于：对诊断对象的所述高分子材料照射1GHz～50GHz内的任意的频率的电波，由基于所照射的电波的来自所述高分子材料的出射波测定复介电常数，并根据所述介电常数的至少实数部的值进行所述高分子材料的劣化诊断。
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