[发明专利]封装基板键合引线的邦定方法有效

专利信息
申请号: 201610080973.X 申请日: 2016-02-04
公开(公告)号: CN105760591B 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 刘武;徐娟;李志东 申请(专利权)人: 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 刘静
地址: 510663 广东省广州市广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及将一种封装基板键合引线的邦定方法,通过将邦定参数的模式组合设定为“力度+摩擦”,力度模式对应的参数有USG1、时间t、压力F1,摩擦模式对应的参数有USG2、压力F2;根据每个参数各自对应的范围,采用5因素n水平均匀设计实验法设计出n组测试数据,生成拟合曲线,得到每个参数各自对应的最佳参数区间,采用5因素2水平正交设计实验法设计出8组测试数据,得出8个键合强度测量值中的最大值,并将该最大值对应的测试数据组作为邦定设备的最佳邦定参数。该方法流程简单明确,涉及的参数数量少,便于快速搜寻,该方法不仅适用于不同类型键合引线的参数优化以降低报警率和提高键合强度,同类型不同规格线径的键合引线的参数优化同样适用。
搜索关键词: 封装 基板键合 引线 方法
【主权项】:
1.一种封装基板键合引线的邦定方法,确定邦定设备的最佳邦定参数,其特征在于,包括以下步骤:(1)、将邦定参数的模式组合设定为“力度+摩擦”,力度模式对应的参数有USG1、时间t、压力F1,摩擦模式对应的参数有USG2、压力F2;设定拟合曲线的接收标准为:R‑Sq和R‑Sq调整均大于90%,R‑Sq和R‑Sq调整的差值为δ,曲线P值和各因素P值均小于0.05,其中‑5%≤δ≤5%;(2)、设定每个参数各自对应的范围;(3)、根据每个参数各自对应的范围,采用5因素n水平均匀设计实验法设计出n组测试数据,每组测试数据均包括有USG1、时间t、压力F1、USG2、压力F2这5个参数,其中10≤n≤20;(4)、将每组测试数据输入邦定设备,对每组测试数据进行测试,并记录每组测试数据对应的键合强度测量值;(5)、根据每组测试数据及对应的键合强度测量值,生成拟合曲线;(6)、若生成的拟合曲线满足接收标准,则执行步骤(7);若生成的拟合曲线不满足接收标准,则重新执行步骤(2)至(5);(7)、根据拟合曲线和参数设计边界,计算每个参数各自对应的最佳参数区间,每个参数对应的最佳参数区间具有上限值和下限值;(8)、根据每个参数对应的上限值和下限值,采用5因素2水平正交设计实验法设计出8组测试数据,每组测试数据均包括有USG1、时间t、压力F1、USG2、压力F2这5个参数;(9)、将每组测试数据输入邦定设备,对每组测试数据进行测试,并记录每组测试数据对应的键合强度测量值;(10)、得出8个键合强度测量值中的最大值,并将该最大值对应的测试数据组作为邦定设备的最佳邦定参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司,未经广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610080973.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top