[发明专利]同时的调制与摩擦加热头盘接触检测有效
| 申请号： | 201610081015.4 | 申请日： | 2016-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN105869660B | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 娄华洲;J·W·莱德宁;S·S·希尔维斯基;柳东明;周霖 | 申请（专利权）人： | 希捷科技有限公司 |
| 主分类号： | G11B5/60 | 分类号： | G11B5/60 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 侯颖媖 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了一种同时发生调制和摩擦加热的头盘接触检测。一种装置包括热辅助磁记录(HAMR)头、传感器和控制器。该HAMR头配置为与磁性存储介质相互作用。该传感器配置为产生指示头‑介质接触的发生的信号。该控制器配置为接收该信号并且同时从该信号中由第一接触检测参数、第二接触检测参数、或者第一与第二接触检测参数两者来确定是否造成了头‑介质接触的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 同时 调制 摩擦 加热 接触 检测 | ||
【主权项】：
1.一种用于数据存储的装置，包括：控制器，配置为耦合到磁记录头，所述磁记录头配置为与磁存储介质交互且包含传感器，所述传感器配置为产生指示头‑介质接触的发生的信号，所述控制器配置为：利用第一采样类型从所述信号确定振动参数，并利用与所述第一采样类型不同的第二采样类型从所述信号确定热参数；分析所述振动参数和热参数二者以用于头‑介质接触的指示；以及响应于振动参数和热参数中的至少一个指示头‑介质接触，确定头‑介质接触的发生，其中，由所述振动参数所指示的头‑介质接触的发生的确定是基于所述信号的AC采样的幅度。
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