[发明专利]用于复合网格结构的相位检测自动对焦(PHAF)像素的微透镜在审
申请号: | 201610084478.6 | 申请日: | 2016-02-14 |
公开(公告)号: | CN106549025A | 公开(公告)日: | 2017-03-29 |
发明(设计)人: | 周耕宇;曾建贤;江伟杰;许文义;山下雄一郎 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 | 代理人: | 章社杲,李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了用于高角响应区别的图像传感器。多个像素包括相位检测自动对焦(PDAF)像素和图像捕获像素。像素的像素传感器布置在半导体衬底中。网格结构布置在半导体衬底上方,横向围绕像素的滤色镜。像素的微透镜布置在网格结构上方,并且包括PDAF像素的PDAF微透镜和图像捕获像素的图像捕获微透镜。PDAF微透镜包括比图像捕获微透镜更大的光学功率,或包括使得PDAF像素的PDAF接收表面具有非对称轮廓的位置或形状。也提供了用于制造图像传感器的方法。本发明的实施例还涉及用于复合网格结构的相位检测自动对焦(PHAF)像素的微透镜。 | ||
搜索关键词: | 用于 复合 网格 结构 相位 检测 自动 对焦 phaf 像素 透镜 | ||
【主权项】:
一种图像传感器,包括:多个像素,所述多个像素包括相位检测自动对焦(PDAF)像素和图像捕获像素;所述像素的像素传感器,布置在半导体衬底中;网格结构,布置在所述半导体衬底上方,横向围绕所述像素的滤色镜;以及所述像素的微透镜,布置在所述网格结构上方,并且包括所述PDAF像素的PDAF微透镜和所述图像捕获像素的图像捕获微透镜;其中,所述PDAF微透镜包括比所述图像捕获微透镜更大的光学功率,或包括使得所述PDAF像素的PDAF接收表面具有非对称轮廓的位置或形状。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610084478.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种阵列基板、显示面板及显示装置
- 下一篇:固态成像装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的