[发明专利]辐射定标方法及装置有效
| 申请号： | 201610084905.0 | 申请日： | 2016-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN105737980B | 公开（公告）日： | 2017-08-25 |
| 发明（设计）人： | 陈林;张鹏;胡秀清;徐娜;王玲;吴荣华 | 申请（专利权）人： | 国家卫星气象中心 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司11514 | 代理人： | 李向英 |
| 地址： | 100081 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的目的是提供一种辐射定标方法及装置，获取A地的辐射参数值与待定标仪器的测量值并建立二者之间的多项式拟合关系，得到待定标仪器的A地定标系数，获取B地的辐射参数值与待定标仪器的测量值，并根据待定标仪器的A地定标系数，建立B地的辐射参数值与待定标仪器的测量值之间的多项式拟合关系，得到待定标仪器的B地定标系数。本方法及装置引入了基准仪器测量到的辐射参数，在A地获取了待定标仪器的定标系数，并以此来修正B地的定标系数，提高了待定标仪器的定标精度。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 定标 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种辐射定标方法，其特征在于，包括：获取A地的辐射参数值RA与待定标仪器的测量值MA；建立A地的辐射参数值RA与待定标仪器的测量值MA之间的P次项拟合关系，P是自然数，P≥2，得到待定标仪器的A地定标系数，用矩阵KA表示，KA＝[kPkP‑1…ki…k2k1Ak0A]，ki是i次项定标系数，其中i是自然数，2≤i≤P，k1A是A地一次项定标系数，k0A是A地零次项定标系数；获取B地的辐射参数值RB与待定标仪器的测量值MB；根据所述待定标仪器的A地定标系数KA，约束建立B地的辐射参数值RB与待定标仪器的测量值MB之间的P次项拟合关系，得到待定标仪器的B地定标系数，用矩阵KB表示，KB＝[kPkP‑1…ki…k2k1Bk0B]，ki是i次项定标系数，其中i是自然数，2≤i≤P，k1B是B地一次项定标系数，k0B是B地零次项定标系数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家卫星气象中心，未经国家卫星气象中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610084905.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
