[发明专利]XY偏斜的检测和对准有效
| 申请号： | 201610084973.7 | 申请日： | 2016-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN106411415B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 岳洋;章波;R·C·洛弗兰德;J·T·奥内尔;王强;J·J·安德森 | 申请（专利权）人： | 瞻博网络公司 |
| 主分类号： | H04B10/61 | 分类号： | H04B10/61;H04B10/69;H04L27/22 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李辉;辛鸣 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请的各实施例涉及XY偏斜的检测和对准。一种光学设备可以包括调制器。调制器可以接收光学信号。调制器可以调制光学信号以包括第一信道和第二信道。调制器可以基于与检测偏斜关联的训练模式来调制光学信号。调制器可以使得第一信道与第二信道干涉。调制器可以对第一信道和第二信道执行功率测量。调制器可以基于功率测量和训练模式来确定偏斜。调制器可以基于偏斜来对第一信道或者第二信道时间延迟以对准偏斜。 | ||
| 搜索关键词： | xy 偏斜 检测 对准 | ||
【主权项】：
一种光学设备，包括：用于提供光学信号的装置；以及调制器，包括：用于利用训练模式调制所述光学信号的X极化信道(X信道)和Y极化信道(Y信道)的装置，所述X信道包括同相信道(XI信道)和正交信道(XQ信道)，所述Y信道包括同相信道(YI信道)和正交信道(YQ信道)；用于使得所述X信道与所述Y信道干涉的装置；以及用于在所述X信道与所述Y信道干涉之后确定所述光学信号的光功率测量的装置；以及控制器，包括：用于生成控制信号以基于所述光学功率测量来对准与所述光学信号关联的偏斜的装置；以及用于向两个或者更多个支流调制器中的支流调制器提供所述控制信号以更改对所述光学信号的调制的装置。
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