[发明专利]一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置有效
| 申请号： | 201610086460.X | 申请日： | 2016-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN105513993B | 公开（公告）日： | 2018-01-05 |
| 发明（设计）人： | 杜思元;顾萍萍;汪扬;杜春荣 | 申请（专利权）人： | 太仓市同维电子有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司11340 | 代理人： | 杨文录 |
| 地址： | 215400 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及双脚双色发光二极管装配领域，尤其涉及一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置，包括主体(1)、A探针和B探针，主体(1)的侧面设有孔径均为2.5mm的第一探孔(2)和第二探孔(3)，所述第一探孔(2)和第二探孔(3)的水平距离为5.5mm，垂直距离为13mm，所述主体(1)的顶面设有供二极管双引脚插入的孔，该孔其中一个竖直向下和第一探孔(2)相连通，另一个竖直向下和第二探孔(3)相连通；所述A探针和B探针可分别从第一探孔(2)和第二探孔(3)插入。本发明实现了二极管在成型时的引脚检测，整个测试过程简单快捷，测试准确，提高了整个生产效率和质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 双脚 发光二极管 折弯 成型 质检 装置 | ||
【主权项】：
一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置，其特征在于：包括由透明绝缘玻璃构成的主体(1)、A探针和B探针，所述主体(1)的侧面设有孔径均为2.5mm的第一探孔(2)和第二探孔(3)，所述第一探孔(2)和第二探孔(3)的水平距离为5.5mm，垂直距离为13mm，所述主体(1)的顶面设有供二极管双引脚插入的孔，该孔其中一个竖直向下和第一探孔(2)相连通，另一个竖直向下和第二探孔(3)相连通；所述A探针和B探针可分别从第一探孔(2)和第二探孔(3)插入。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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