[发明专利]一种基于折半搜索算法的电离层穿刺点坐标计算方法在审

专利信息
申请号: 201610088229.4 申请日: 2016-02-17
公开(公告)号: CN105738919A 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 余龙飞;胡伍生;韩理想 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01S19/07 分类号: G01S19/07
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210096 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于折半搜索算法的电离层穿刺点坐标计算方法,步骤S1是初始化折半搜索算法的参数;步骤S2是探测位置的计算、判定探测位置是否满足要求;步骤S3是更新边界条件,然后回到步骤S2;步骤S4是结束。本发明通过折半搜索算法计算电离层穿刺点的位置,克服了目前传统的三角公式计算电离层穿刺点只能得到近似坐标的弱点,有效的保证了电离层穿刺点始终在接收机与导航卫星之间的线段上,也保证了中心电离层模型是一个相对于地球椭球的固定高度椭球面,有利于高精度的电离层相关研究。并且,本发明提出的折半搜索算法计算电离层穿刺点坐标的精度优于现有技术。
搜索关键词: 一种 基于 折半 搜索 算法 电离层 穿刺 坐标 计算方法
【主权项】:
1.一种基于折半搜索算法的电离层穿刺点坐标计算方法,其特征在于:包括以下的步骤:S1:初始化折半搜索算法的参数:初始化上边界、下边界和中心电离层的椭球高;S2:探测位置的计算、判定探测位置是否满足要求:根据上边界和下边界计算探测位置的大地空间直角坐标,并将探测位置的大地空间直角坐标转换成大地坐标;将探测位置的椭球高与中心电离层的椭球高进行比较,判定探测位置是否满足要求:如果探测位置的椭球高与中心电离层的椭球高相等,则探测位置满足要求,进行步骤S4;否则,进行步骤S3;S3:更新边界条件,然后回到步骤S2;S4:结束。
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