[发明专利]一种晶元在线监测方法及装置有效
申请号: | 201610091124.4 | 申请日: | 2016-02-18 |
公开(公告)号: | CN107093568B | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 贺业成;刘宇航 | 申请(专利权)人: | 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/66 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 吴黎 |
地址: | 100871 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供的晶元在线监测方法,首先获取多个晶元的多个测试数据,然后根据每个晶元的测试数据的最大值和最小值之差值判断单个晶元是否出现问题,从而对单个晶元进行报警;此外,还根据每个晶元的测试均值是否超出阈值进行报警,用于监测不同晶元之间的异常,从而实现了对单个晶元以及不同晶元之间的在线监测,提高了监测效率和监测精度。此外,该方案中还计算除了多个质量监测参数Cp、Cpu、Cpl、Cpk、Ca,综合监测晶元的质量状况,通过图表直观的进行显示,提供便利的操作方式。 | ||
搜索关键词: | 一种 在线 监测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种晶元在线监测方法,其特征在于,包括如下步骤:实时获取多个晶元的测试数据,每个晶元对应多个测试数据;计算每个晶元对应的测试数据的最大值和最小值之差值;判断所述差值是否超出预设差值阈值,若超出则对该晶元进行预警;根据每个晶元对应的多个测试数据计算每个晶元的测试均值;判断所述测试均值是否超出第一阈值,若超出第一阈值则进行第一报警处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造