[发明专利]一种判定电气设备线圈材质的方法有效
| 申请号： | 201610091515.6 | 申请日： | 2016-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN105758874B | 公开（公告）日： | 2019-03-12 |
| 发明（设计）人： | 郑欣;杨迎春;刘荣海;许宏伟;周静波;虞鸿江;吴章勤 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种判定电气设备线圈材质的方法，包括：通过X射线对待测电气设备线圈进行透照成像；利用得到的透照影像，测量得到该待测电气设备线圈的结构尺寸；在该透照影像上选取两个不同的测量点，测量测量点处的灰度值，并计算测量点处的透照厚度；计算该待测电气设备线圈的吸收系数；将该吸收系数与相同能量等级的X射线下不同金属的吸收系数对照，判定该待测电气设备线圈的材质。本发明实施例公开的判定电气设备线圈材质的方法，可以在待测电气设备内部结构未知的情况下，通过X射线完成对线圈材质的判定，而无需对该待测电气设备进行拆卸，操作简单，能有效提高对待测电器设备线圈材质的判定效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 判定 电气设备 线圈 材质 方法 | ||
【主权项】：
1.一种判定电气设备线圈材质的方法，其特征在于，包括：分别沿线圈轴线和线圈径向方向，对待测电气设备线圈通过X射线进行透照成像，分别得到所述待测电气设备线圈的沿线圈轴线方向的透照影像和沿线圈径向方向的透照影像；通过所述沿线圈轴线方向的透照影像，测量得到所述待测电气设备线圈的外径尺寸；通过所述沿线圈径向方向的透照影像，测量得到所述待测电气设备线圈的厚度；分别测量所在所述沿线圈轴线方向的透照影像上，选取与同一侧线圈外径距离不同的两个测量点；分别测量两个测量点处的灰度值；分别测量所述测量点到同一侧线圈外径的距离；分别判断所述测量点处的所述待测电气设备线圈的厚度与所述测量点到同一侧线圈外径的距离两者之间的大小，并计算所述测量点处的透照厚度；如果S＜T，所述测量点处的透照厚度为![]()
或者，如果S≥T，所述测量点处的透照厚度为![]()
其中，T为所述测量点处的所述待测电气设备线圈的厚度，S为所述测量点到同一侧线圈外径的距离，D为所述待测电气设备线圈的外径尺寸，t为所述测量点处的透照厚度；根据所述测量点处的透照厚度和灰度值，计算所述待测电气设备线圈的吸收系数；将所述待测电气设备线圈的吸收系数与相同能量等级的X射线下不同金属的吸收系数对照，判定所述待测电气设备线圈的材质。
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