[发明专利]利用已知形状薄片自动S/TEM采集和计量的图形匹配有效

专利信息
申请号: 201610097944.4 申请日: 2016-02-23
公开(公告)号: CN105914159B 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: P.普拉钦达;L.张;J.罗勒 申请(专利权)人: FEI公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 成城;胡斌
地址: 美国俄*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及利用已知形状薄片自动S/TEM采集和计量的图形匹配。一种方法,所述方法用于在电子显微镜,如SEM、TEM或STEM中将在薄片中感兴趣区域中的特征自动成像而不需要先行了解待成像特征,因此使得能够通过从第一图像位置步进来获得多个电子显微图像,而不需要使用对单独图像特征的图像识别。通过消除对图像识别的需要,可以获得图像采集率的实质性增加。
搜索关键词: 利用 已知 形状 薄片 自动 tem 采集 计量 图形 匹配
【主权项】:
一种将薄片窗口上的感兴趣区域中的特征在透射电子显微镜(TEM)中自动成像而不需要了解待成像的所述特征的方法,包括:在TEM中的TEM栅格上提供具有已知几何形状的薄片;引导电子束朝向所述TEM栅格以形成包括所述薄片窗口的图像;确定所述图像内的所述薄片窗口的周界;确定所述感兴趣区域的取向,其中所述感兴趣区域的取向限定步进方向;获得所述感兴趣区域的一部分的第一图像以辨认所述感兴趣区域的一部分;以及通过从所述第一图像的位置沿所述步进方向步进来获得多个图像,以获得所述感兴趣区域的部分的多个图像,其中获得所述多个图像而不使用对所述感兴趣区域中的待查看的单独特征的图像识别。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司,未经FEI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610097944.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top