[发明专利]光学膜的不良检测装置及方法有效
| 申请号： | 201610098872.5 | 申请日： | 2016-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN105911062B | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 金种佑;朴真用 | 申请（专利权）人： | 东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 11410 北京市中伦律师事务所 | 代理人： | 石宝忠 |
| 地址： | 韩国全*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供光学膜的不良检测装置及方法。根据本发明的光学膜的不良检测装置包含：接收部，其由至少一个检查装置接收光学膜卷(roll)的不良信息；不良位置决定部，其基于所述不良信息，决定与所述光学膜卷对应的2维平面上的不良的位置；探索部，其基于所述不良的位置，探索在所述平面上已经被设定的数以上的不良存在的区域；和不良检测部，其基于所述被探索的区域中所含的不良的密集度来检测密集性不良。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 不良 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.光学膜的不良检测装置，其包含：/n接收部，其由至少一个检查装置接收光学膜卷(roll)的不良信息；/n不良位置决定部，其基于所述不良信息，决定与所述光学膜卷对应的2维平面上的不良的位置；/n探索部，其设定一定大小的探索区域，基于所述不良的位置，变更所述探索区域的位置的同时探索所述2维平面上已经被设定的数以上的不良存在的区域；和/n不良检测部，其基于被所述探索部探索的区域中所含的不良的密集度来检测密集性不良。/n
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